磁性材料自動測量系統(tǒng) ZX311-MATS-3000M

MATS磁性材料自動測量系統(tǒng)
ZX311-MATS-3000M硅鋼材料測量裝置
產(chǎn)品簡介
MATS-3000M/K50B硅鋼材料測量裝置是基于computer（計(jì)算機(jī)）、Software 軟件、A/D數(shù)據(jù)采集和ARM嵌入式系統(tǒng)等技術(shù)應(yīng)用條件下的磁測量設(shè)備。
MATS-3000M/K50B硅鋼材料測量裝置運(yùn)用數(shù)字波形補(bǔ)償和數(shù)字反饋技術(shù)，可準(zhǔn)確測量電工鋼片（帶）、坡莫合金、非晶和納米晶等軟磁材料材料在40Hz～1.2kHz頻率范圍內(nèi)的交流磁性參數(shù)：比總損耗Ps、磁極化強(qiáng)度Jm、磁場強(qiáng)度Hm、比視在功率Ss、振幅磁導(dǎo)率，以及交流磁化曲線和損耗曲線。
主要特點(diǎn)
⑴ 采用Windows測量軟件，操作方便。
⑵ 采用伏安法和數(shù)字積分測量動態(tài)磁滯回線，可準(zhǔn)確測量μa、δ、Ps、Br和Hc等動態(tài)磁特性參數(shù)。
⑶ 第三代信號源技術(shù)，初級輸出低至10mV時(shí)，仍保持較高的信噪比。
⑷ 運(yùn)用數(shù)字動態(tài)反饋處理技術(shù)，次級電壓信號測量小可達(dá)到1mVrms。
⑸ 運(yùn)用數(shù)字波形補(bǔ)償技術(shù)，通過數(shù)字合成、移相等數(shù)字處理技術(shù)的應(yīng)用，保證被測樣品在接近飽和磁化狀態(tài)下時(shí)次級電壓的波形因數(shù)，測量結(jié)果準(zhǔn)確。
⑹ 全頻率范圍鎖定磁場測量，初級勵磁電流小分辯率0.01mA。適合電流互感器磁芯等器件的交流磁化曲線測量。
⑺ 裝置主機(jī)整體散熱風(fēng)道設(shè)計(jì)，可滿足連續(xù)裝置在連續(xù)大功率條件測量環(huán)境下的性。
⑻ 裝置主機(jī)采用4.5寸854×480高分辨率IPS顯示屏，實(shí)時(shí)顯示電壓參數(shù)和波形狀態(tài)。
⑼ 自動連續(xù)測量多達(dá)255個測試點(diǎn)，每個測試點(diǎn)的測試時(shí)間約30秒（與樣品相關(guān)），多點(diǎn)測試可選擇固定頻率、固定Bm或固定Hm。
磁性材料自動測量系統(tǒng) ZX311-MATS-3000M

裝置技術(shù)參數(shù)
1、工作環(huán)境
輸入電源 單相200V～240V，50Hz±10%，大10A
使用環(huán)境 環(huán)境溫度：23±5℃；環(huán)境濕度：30～75%RH
外磁場干擾 應(yīng)絕對避免
熱平衡時(shí)間 10分鐘
2、測量范圍
適用標(biāo)準(zhǔn) GB/T 3655-2008 、GB/T 13789-2008、GB/T 3658-2008、GB/T 19346.1-2007、IEC 60404-2、IEC 60404-3、IEC 60404-6
測量材料 可測量電工鋼（硅鋼）、軟磁鐵氧體、坡莫合金、非晶/納米晶和電工純鐵等軟磁材料
樣品形狀 可采用愛潑斯坦方圈或磁導(dǎo)計(jì)測量片狀和條狀等開路樣品
可繞線測量環(huán)形、EE/EI型、UU/UI、矩形、CD型和雙孔等閉路樣品
測量參數(shù) Ps、Jm、Hm、Ss，μa、δ、Br和Hc，可推算特定條件下的μ′、μ″、μL、μR、Q和AL等參數(shù)。
3、裝置參數(shù)
型號
參數(shù) MATS-3000M/k50B
大輸出功率 500VA正弦波（20Hz-40Hz：150VA;40Hz-1KHz：500VA;1KHz-2K Hz為350VA）
頻率范圍 40Hz～1.2k
頻率細(xì)度 1Hz
輸出電壓 0～1V～10V～50V～150V 四檔自動量程
大輸出電流 0～10A
電流采樣 6.33mA～20A，八檔自動量程
電壓采樣 1V～316V，六檔自動量程
測量模式 鎖B 有
鎖H 有
保護(hù)功能 過熱、過流、過壓和參數(shù)保護(hù)
數(shù)據(jù)采集卡 采樣速率：40MHz×2通道;分辨率和線性度：12Bit±1/2LSB
工控計(jì)算機(jī) 研華IPC-510或研祥IPC-810
操作系統(tǒng) Windows XP或Windows 7
打印機(jī) 黑白激光打印機(jī)
4、系統(tǒng)參數(shù)
4.1、依據(jù)國標(biāo)GB/T 3655-2000，在50Hz、60Hz頻率下，使用25cm愛潑斯坦方圈測量30×300的硅鋼標(biāo)樣，技術(shù)指標(biāo)如下：
被測參數(shù) Ps(%) Ss(%) Hrms(%) Bm(%) Hm(%)
不確定度(k=2) 1 1 2 1 2
重復(fù)性(恒溫) ± 0.5 ± 0.5 ± 1 ± 0.5 ± 1
備注 鎖B測試：無取向片Bm≤1.5T
取向片Bm≤1.7T 鎖H測試：無取向片Hm≥1000A/m
取向片Hm≥500A/m
4.2、依據(jù)國標(biāo)GB/T 13789-2008，在50Hz、60Hz頻率下，使用SST-500單片磁導(dǎo)計(jì)測量500×500的硅鋼標(biāo)樣，技術(shù)指標(biāo)如下：
被測參數(shù) Ps(%) Ss(%) Hrms(%) Bm(%) Hm(%)
不確定度(k=2) 1.5 1.5 2 1 3
重復(fù)性(恒溫) ± 0.5 ± 0.5 ± 1 ± 0.5 ± 1
備注 鎖B測試：無取向片Bm=0.8～1.5T
取向片Bm=1.0～1.8T 鎖H測試：無取向片Hm≤10000A/m取向片Hm≤1000A/m
4.3、依據(jù)國標(biāo)GB/T 3658-2008，在20Hz～2kHz頻率下，測量坡莫合金環(huán)形試樣，技術(shù)指標(biāo)如下：
被測參數(shù) Ps(%) μa(%) δ(%) Bm(%) Hm(%)
不確定度(k=2) 3 2 - 1 1
重復(fù)性(恒溫) ± 1.5 ± 1 ± 1 ± 0.5 ± 0.5
備注 1、試樣應(yīng)為薄壁環(huán)，外徑/內(nèi)徑≤1.25。
2、測試前應(yīng)先退磁，退磁場頻率≤測試頻率。
3、不確定度為“-"，表示國標(biāo)中不要求。
4.4、依據(jù)國標(biāo)GB/T 19346.1-2007，測量非晶環(huán)形試樣，技術(shù)指標(biāo)如下：
被測參數(shù) Ps(%) Ss(%) μa(%) δ(%) Bm(%) Hm(%)
不確定度(k=2) 5 5 3 - 1 2
重復(fù)性(恒溫) ± 3 ± 2.5 ± 2 ± 2 ± 0.5 ± 1
備注 ㈠.試樣應(yīng)為薄壁環(huán)，外徑/內(nèi)徑≤1.5。
㈡.鎖B測試，且Bm=100mT～200mT；測試前應(yīng)先退磁，退磁場頻率≤測試頻率。
㈢.不確定度為“-"，表示國標(biāo)中不要求。